材料、矿物物相结构及形貌分析平台

JEM-F200 高分辨场发射透射电镜

仪器名称：高分辨场发射透射电镜

仪器型号：JEM-F200；X-MAXN能谱仪

生产厂家：日本电子/英国牛津仪器公司

主要技术指标：

1.信息分辨率 0.12nm@200kV；

2.线(晶格)分辨率 0.10nm@200kv 0.14nm@80kv；

3.扫描透射分辨率 0.16nm@200kv热场 0.31nm@80kv(Profile测量方法，非衍射）；

4.点分辨率 0.19nm@200kv（Profile测量方法，非衍射）

主要功能和应用：

       能够广泛应用于材料的的TEM形貌分析、高分辩分析（晶格条纹)、STEM分析（明场、暗场及元素的Mapping）、样品的选区衍射分析。

操作人员： 戈桦、丁秀萍

联系方式：0971-6363102；E-mail：dingxp@isl.ac.cn

安放地点： 中国科学院青海盐湖研究所  综合楼105房间