材料、矿物物相结构及形貌分析平台
JEM-F200 高分辨场发射透射电镜
仪器名称:高分辨场发射透射电镜
仪器型号:JEM-F200;X-MAXN能谱仪
生产厂家:日本电子/英国牛津仪器公司
主要技术指标:
1.信息分辨率 0.12nm@200kV;
2.线(晶格)分辨率 0.10nm@200kv 0.14nm@80kv;
3.扫描透射分辨率 0.16nm@200kv热场 0.31nm@80kv(Profile测量方法,非衍射);
4.点分辨率 0.19nm@200kv(Profile测量方法,非衍射)
主要功能和应用:
能够广泛应用于材料的的TEM形貌分析、高分辩分析(晶格条纹)、STEM分析(明场、暗场及元素的Mapping)、样品的选区衍射分析。
操作人员: 戈桦、丁秀萍
联系方式:0971-6363102;E-mail:dingxp@isl.ac.cn
安放地点: 中国科学院青海盐湖研究所 综合楼105房间