无机材料成分分析测试平台
X射线荧光光谱仪
仪器名称：X射线荧光光谱仪 仪器型号：荷兰帕纳科Axios
生产厂家：荷兰帕纳科科技有限公司
引进时间：2005年3月
检测范围：元素含量测定（O8～U92）
主要技术指标：
1.4 KW陶瓷超尖锐X射线光管；
2.测角仪定位精度：0.00010θ.00。定位的准确度0.00250θ.00；
3.谱仪恒温（30±0.1）℃；
4.样品室为下照式设计，带有自旋装置；
5.可进行定性/半定量，定量分析。
应用范围：
X射线荧光光谱仪是一台分析样品元素含量的仪器。主要分析的样品形态包括固体、液体、粉末等。
目前广泛应用于地质、矿产品、无机材料、盐湖矿物、水泥和有色等诸多领域。
制样要求：
1.土壤及沉积物样品须干燥过200目筛，总量不得少于5.0 g，且具备均匀性及代表性；
2.对于金属、合金等块状样品，需处理成直径为33~40 mm、厚度大于0.5 cm的圆片，被侧面要求光滑、平整、清洁。在存、取放样过程中，应严防测试面受到污染。
操作人员：王德荣
联系方式：0971-6363102；E-mail：wangdr@isl.ac.cn
安放地点：中国科学院青海盐湖研究所 综合楼104房间
